KDB-2A鋁箔直流電阻測試儀

1、概述

 本設備專用于測量鋁箔直流電阻，傳統的鋁箔直流電阻是測量一條長1m，寬10.0mm的鋁箔電阻，單位為Ω/m電阻（寬度10.0mm）。

 KDB-2A測試儀嚴格參照國際標準SEMI MF 374-0307對設備的要求研制，運用了半導體薄層測量技術，無需特別制樣，可測不規則的鋁箔。

2、技術參數

        （1）測量范圍：鋁箔直流電阻測量范圍（3位有效數字）：0.001-199.99Ω/m

        （2）測量電流分兩檔：100mA和1000mA

        （3）分辨率：0.001Ω/m

        （4）方形試樣尺寸：長×寬≥16mm×16mm

        （5）圓形試樣尺寸：直徑D≥16mm

        （6）試樣厚度：t≤28μm（約）

        （7）探針間距：1.59mm

        （8）擴展讀數：測量值為兩位數時，直流電阻測量**小值擴大至0.010Ω/m；試樣厚度擴大至t≤280μm